COMMERCIALTEMPERATURERANGE
IDTCV146
PROGRAMMABLEFLEXPC CLOCKFORP4PROCESSOR
13
Symbol
Parameter
Test Conditions
Min.
Typ.
Max.
Unit
ppm
Static Error(1,2)
See Tperiod Min. - Max. values
0
ppm
TPERIOD
Clock Period(2)
48MHz output nominal
20.8257
20.834
ns
VOH
Output HIGH Voltage
IOH = -1mA
2.4
V
VOL
Output LOW Voltage
IOL = 1mA
0.55
V
IOH
Output HIGH Current
VOH at Min. = 1V
-29
mA
VOH at Max. = 3.135V
-23
IOL
Output LOW Current
VOL at Min. = 1.95V
29
mA
VOL at Max. = 0.4V
27
EdgeRate(1)
Rising edge rate
1
2
V/ns
EdgeRate(1)
Fallingedgerate
1
2
V/ns
tR1
Rise Time(1)
VOL = 0.8V, VOH = 2V
0.5
1.2
ns
tF1
FallTime(1)
VOL = 0.8V, VOH = 2V
0.5
1.2
ns
dT1
Duty Cycle(1)
VT = 1.5V
45
55
%
tJCYC-CYC
Jitter, Cycle to Cycle
350
ps
ELECTRICAL CHARACTERISTICS, 48MHZ, USB
Following Conditions Apply Unless Otherwise Specified:
Operating Condition: TA = 0°C to +70°C, Supply Voltage: VDD = 3.3V ± 5%; CL = 10 - 20pF
NOTES:
1.
This parameter is guaranteed by design, but not 100% production tested.
2.
All long term accuracy and clock period specifications are guaranteed with the assumption that the REF output is at 14.31818MHz.
Symbol
Parameter
Test Conditions
Min.
Typ.
Max.
Unit
ppm
Long Accuracy(1)
See Tperiod Min. - Max. values
0
ppm
TPERIOD
Clock Period
14.318MHz output nominal
69.827
69.855
ns
VOH
Output HIGH Voltage(1)
IOH = -1mA
2.4
V
VOL
Output LOW Voltage(1)
IOL = 1mA
0.4
V
IOH
Output HIGH Current
VOH at Min. = 1V
-33
mA
VOH at Max. = 3.135V
-33
IOL
Output LOW Current
VOL at Min. = 1.95V
30
mA
VOL at Max. = 0.4V
38
Edge Rate(1)
Rising edge rate
1
4
V/ns
Edge Rate(1)
Fallingedgerate
1
4
V/ns
tR1
Rise Time(1)
VOL = 0.8V, VOH = 2V
0.3
1.2
ns
tF1
Fall Time(1)
VOL = 0.8V, VOH = 2V
0.3
1.2
ns
dT1
Duty Cycle(1)
VT = 1.5V
45
55
%
tJCYC-CYC
Jitter, Cycle to Cycle(1)
VT = 1.5V
1000
ps
ELECTRICAL CHARACTERISTICS - REF-14.318MHZ
Following Conditions Apply Unless Otherwise Specified:
Operating Condition: TA = 0°C to +70°C, Supply Voltage: VDD = 3.3V ± 5%; CL = 10 - 20pF
NOTE:
1.
This parameter is guaranteed by design, but not 100% production tested.
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